Cp: 精度指針 (precision)
Cp=T/(6σp)
規(guī)格為單邊時:Cp=(Tu-X)/3σp 或 Cp=(X-Tl)/3σp
單邊規(guī)格系指某一邊的尺寸受到局限不能超越,如『平面度』、『平行度』只能大不能小。
Ck: 準度指針 (accuracy)
Ck=(M-X)/(T/2)
Cpk: 精、準度綜合指針
Cpk=(1-Ck) x Cp
M: 規(guī)格中心
T: 規(guī)格寬度
Tu: 規(guī)格上限
Tl: 規(guī)格下限
X: 群體之平均值
σp: 群體之標準偏差
在這三個指針中,一般以Cp為制程能力之指針,因為一般人認為生產(chǎn)制程之精度(Cp)就代表制程能力,而想要改善Cp值,通常意味著要提高制程或是更換較精良的機器,一般來說短時間內(nèi)是無法馬上獲得改善的。 就像打靶一樣,如果有一個人把六發(fā)子彈全部都打在同一個位置上,表示這個人的打靶「精度」很高,相反地如果全部都分散開來很遠就表示其精度很低,精度低的人則很難成為神射手。
但準度(Ck)則不然,通常可經(jīng)由人為的控制而獲得改善,只是一般人認為太簡單而加以忽略。 再以打靶為例,如果有一個人打了六發(fā)子彈都沒有打中靶心,可是每顆子彈都打在靶紙上,跟一個六發(fā)子彈有一顆打在靶心,可是其他五顆連靶紙都沒有打中的人比較,那一個人的準度比較高,當然是全部打在靶紙上的準度比較高。
再以打靶為例好了,如果我們只是一味地改善Cp而忽略Ck,就有可能發(fā)生把六發(fā)子彈全部打在同一個位置(高Cp),可是卻全部打在靶紙邊緣(低Ck)的憾事,所以只考慮Cp似稍嫌不足,因為Ck確實還是會影響到打靶的成績,也會影響到整體產(chǎn)品的質(zhì)量。 因此就有了綜合制程Cpk的產(chǎn)生,它是將Ck與Cp兩種指針綜合起來,有了Cpk綜合指針對于改制程能力之衡量,就更為合理了。
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