錫對銅的焊接,其介面間必須先要生成Cu6Sn5的良性IMC,才算沾錫(Wetting)與形成焊點(diǎn)(Solder Joint),也才宣告完成牢固的焊接(Soldering)。否則只是不堪一擊的冷焊(Cold Soldering)或虛焊假焊而已。機(jī)械式的振動(dòng)試驗(yàn)與摔落試驗(yàn),正是檢查其等是否“焊牢”的立即手段。而長期之溫度循環(huán)試驗(yàn),則又是針對已焊牢的狀況下,繼續(xù)考驗(yàn)其焊點(diǎn)之可靠度(Reliability)如何。讀者們必須瞭解,IMC才真正是焊接或焊點(diǎn)的基礎(chǔ),通常只憑外觀實(shí)做與大量品檢之現(xiàn)場經(jīng)驗(yàn),或一廂情愿以訛傳訛積非成是而又漠視科學(xué)真理者,均屬白蓮教徒類半桶水式的專家。
此為銅底鍍純錫后,其介面間常溫所自然生長Cu6Sn5的I MC,與高溫加速生長較厚之IMC,其側(cè)視與俯視之對應(yīng)情形。后者系將純錫層剝蝕掉,但卻留下頑強(qiáng)I MC h,~精采突起的畫面
圖1、此為銅底鍍純錫后,其介面間常溫所自然生長Cu6Sn5的IMC,與高溫加速生長較厚之IMC,其側(cè)視與俯視之對應(yīng)情形。后者系將純錫層剝蝕掉,但卻留下頑強(qiáng)IMC的精采突起的畫面
此為EN I G表面處理的焊墊,經(jīng)Sn63/Pb3 7焊接后所長出N i 3Sn4的I MC。左圖為400倍右圖為2000倍,因系經(jīng)S EM所攝影故只能以黑白晝面呈現(xiàn)
圖2、此為ENIG表面處理的焊墊,經(jīng)Sn63/Pb37焊接后所長出Ni3Sn4的IMC。左圖為400倍右圖為2000倍,因系經(jīng)SEM所攝影故只能以黑白晝面呈現(xiàn)
為了進(jìn)一步認(rèn)知無鉛焊接的IMC,與透析無鉛或高錫量焊接所引發(fā)的錫須,特大量閱讀極多最新文獻(xiàn),并小心實(shí)做微切片下,整理成本文以分享給廣大的業(yè)者與讀者。
有鉛焊接時(shí),真正參與介面之間焊點(diǎn)結(jié)合者,只有錫金屬本身而已,鉛的角色與功用容后再述。如今無鉛時(shí)代即將到來,主流之錫銀銅合金〈ASC305或SAC405〉焊料,或其他各種各樣的無鉛焊料,其中能夠參加介面結(jié)合者,仍然只有錫而已。換句話說球隊(duì)中能夠射門或投籃者,永遠(yuǎn)都只是錫金屬而已。其他雖然都是配角, 但其等重要性與必要性卻不容忽現(xiàn)。
此為無鉛錫膏(S nAg 3.8C u 0.7)焊在銅面上,經(jīng)微切片拋光與微蝕后所看到三種不同的I MC;即介面I MC (C u6S n5),針狀I(lǐng)MC(A g3S n)與枝椏間C u6S n5的IMC
圖3、此為無鉛錫膏(SnAg3.8Cu0.7)焊在銅面上,經(jīng)微切片拋光與微蝕后所看到三種不同的IMC;即介面IMC(Cu6Sn5),針狀I(lǐng)MC(Ag3Sn)與枝椏間Cu6Sn5的IMC。
左圖為Auger電子顯微鏡所見到純錫凸塊承墊(UBM)的銅面上,經(jīng)熔焊沾錫所呈現(xiàn)的剖面圖 (藍(lán)色是銅,紅色是錫,中間粉色者即為C u 6S n:的I MC)o右圖系將原切樣再經(jīng)歐杰式電子顯微鏡內(nèi)部之氬氣濺射后,所見到三種不同組成的清晰畫面
圖4、左圖為Auger電子顯微鏡所見到純錫凸塊承墊(UBM)的銅面上,經(jīng)熔焊沾錫所呈現(xiàn)的剖面圖 (藍(lán)色是銅,紅色是錫,中間粉色者即為Cu6Sn5的IMC)o右圖系將原切樣再經(jīng)歐杰式電子顯微鏡內(nèi)部之氬氣濺射后,所見到三種不同組成的清晰畫面
一、介面良性的IMC
可與錫金屬構(gòu)成焊點(diǎn)介面結(jié)合者,電子工業(yè)中也只用到銅(C u)與鎳(N i)做為焊點(diǎn)的基地而已。也就是高溫中在銅面上瞬間反應(yīng),化合成為六銅五錫的化合物,Cu6Sn5, eta phase,或在鎳面上形成三鎳四錫之另一種化合物,唯有如此方可完成沾錫與焊牢。至有關(guān)PCB承接的焊墊(含孔環(huán)孔壁),其等表面處理諸如噴錫,OSP、I-Ag、I-Sn等,都是以Cu6Sn5的IMC所焊牢。至于ENIG或電鍍鎳金,則是在鎳面上長出另一種焊點(diǎn);通常銅面IMC之成長速度與強(qiáng)度,都超過鎳面IMC o此等良性的IMC是焊接的先決條件,未能形成IMC者就根本沒焊牢。無法生成良性IMC的原因很多,如:
1.銅面或鎳面遭到較嚴(yán)重的污染,連助焊劑也清除不掉。
2.熱量不足無法完成IMC的化合反應(yīng).
3.無鉛焊接時(shí)遭到少量的鉛污染或鉍含量,高溫中此二雜質(zhì)會(huì)迅速栘往銅面與鎳面,進(jìn)而阻止了IMC的生成反應(yīng)。
以上種種結(jié)合力付之闕如的焊接,經(jīng)常被稱為冶焊、虛焊,或假焊。
圖5、為200℃下銅面生長的eta-IMC,于不同時(shí)間點(diǎn)長厚長大而經(jīng)SEM的掃視圖。
為200℃下銅面生長的eta-IMC,于不同時(shí)間點(diǎn)長厚長大而經(jīng)SEM的掃視圖
圖6、此為刻意將鎳面與銅面,以無鉛錫膏在250℃下所分別熔焊10秒、30秒,與1分鐘后,再經(jīng)切片微蝕后採SEM放大1500倍而見到鎳面IMC的變化,與銅面IMC不斷長厚的對比情形。
二、老化后介面間的惡性IMC
上述IMC之所以形成,說穿了就是清潔的固體銅與固體鎳的表面,在高溫中迅速遷移(Migration)參與到液態(tài)的錫金屬中去,也可說是溶化到液錫中。冷卻固化后其介面即已形成了良性的IMC ,彼此也就強(qiáng)力的結(jié)合而焊牢了 。
然而完成焊接的后續(xù)日子裡,固體銅與固體錫之間的相互遷移并未停止,其中銅的移動(dòng)速率比錫要快〈比鎳溶在液錫中的速率要快40倍以上,也就是老化或劣化的較快),致使長時(shí)間放置后,在原本的Cu6Sn5與底銅之間,又逐漸長出了一種惡性IMC的Cu3Sn。一旦如此則銲點(diǎn)強(qiáng)度將逐漸弱化,其老化與衰敗也正如同生物的老病與死亡一樣,是無法阻止的自然法則;且在高溫環(huán)境中還會(huì)加速老化的進(jìn)行。
此為銅面Cu6Sn5的eta-IMC,分別在室溫與5 5℃中,經(jīng)歷長時(shí)間老化所長厚的趨勢圖。
圖7、此為銅面Cu6Sn5的eta-IMC,分別在室溫與5 5℃中,經(jīng)歷長時(shí)間老化所長厚的趨勢圖。
此為BGA無鉛球腳採無鉛錫膏在銅墊上完成焊接,又刻意在150℃高溫放置32天后之微切片畫面。此時(shí)Eta-IMC與底銅之間已長出清晰可見的Cu6Sn5惡性Epsilon IMC。此等過度老化之銲點(diǎn)實(shí)際上已經(jīng)非常脆弱了
圖8、此為BGA無鉛球腳採無鉛錫膏在銅墊上完成焊接,又刻意在150℃高溫放置32天后之微切片畫面。此時(shí)Eta-IMC與底銅之間已長出清晰可見的Cu6Sn5惡性Epsilon IMC。此等過度老化之銲點(diǎn)實(shí)際上已經(jīng)非常脆弱了。
三、焊點(diǎn)中的Dendrite IMC
介面間的IMC是良性焊接的必要條件,但銲點(diǎn)中枝椏狀四分五裂的IMC,卻是對焊接強(qiáng)度有害的癌細(xì)胞。介面間必須產(chǎn)生良性的IMC,才能完成可靠的焊接,故知介面中的IMC是件絕對必要的好事。然而一旦銲點(diǎn)中也出現(xiàn)了零星分散式的1^10:而造成不均相的分佈者,則對銲點(diǎn)強(qiáng)度而言那就大大的不妙了 。從各種老化試驗(yàn)以及銲點(diǎn)開裂的分析可知,都是肇始于銲點(diǎn)中不該有的IMC。此種不均相的枝晶,由于其CTE與均相銲料者頗有差異, 長期熱脹冷縮中,不免會(huì)與週遭均相銲料步調(diào)不同發(fā)生捍格,進(jìn)而由初始的微裂, 逐漸發(fā)展成分崩離析的開口大裂。
此三圖均為SAC無鉛焊點(diǎn)冷焊料都會(huì)發(fā)生非均質(zhì)結(jié)構(gòu)式卻后所出現(xiàn)的微裂情形
圖9、此三圖均為SAC無鉛焊點(diǎn)冷焊料都會(huì)發(fā)生非均質(zhì)結(jié)構(gòu)式卻后所出現(xiàn)的微裂情形,不管是熔焊或波焊只要是LF銲料都會(huì)發(fā)生非均質(zhì)結(jié)構(gòu)式的的微裂,只有在焊后瞬間迅速降溫(5—6℃/sec)擾亂其晶出固化過程下,才可能減少一些微裂的瑕疵。
已延用多年的有鉛焊接,其焊料中選擇鉛金屬做為伙伴,做為稀釋劑,做為合金,在工程技術(shù)方面都是絕對明智的選擇。因?yàn)殂U不會(huì)與錫形成IMC,又可以任何比例很容易與錫組成合金 ,所以不會(huì)削弱焊點(diǎn)強(qiáng)度,也不致造成后患。不幸的是在無鉛的SAC中,不但銅會(huì)與錫在焊點(diǎn)中生成針狀的IMC,銀也會(huì)與錫形成窄條而四處亂射的IMC,二者老化中均不免大扯強(qiáng)度的后腿。
有鉛焊接以波焊為例,一旦焊料中的銅污染(來自PCB的焊墊與零件腳)超過重量比1%時(shí),焊點(diǎn)切片中即可見到如箭一般射出的Cu6Sn5枝晶。SAC 305冷卻后的焊點(diǎn),不但組織非常粗糙,而且拋光截面上微蝕后,還一定會(huì)見到三銀一錫長條狀的白色I(xiàn)MC(Ag3Sn)。黃金溶人液錫的速率則更快(是鎳的1150倍),常以AuSn、AuSn2或AuSn4等結(jié)合方式出現(xiàn),只是其DendriteS較小不太明顯而已,一旦重量比超過3%時(shí),其焊點(diǎn)還會(huì)出現(xiàn)容易開裂的“金脆”。
此三圖分別為S n A g與S A C兩種L F焊料,在焊點(diǎn)內(nèi)所出現(xiàn)板狀條狀的Ag3Sn不良Dendrite式IMC,對長期可靠度會(huì)有不良的影響 圖10、此三圖分別為SnAg與SAC兩種LF焊料,在焊點(diǎn)內(nèi)所出現(xiàn)板狀條狀的Ag3Sn不良Dendrite式IMC,對長期可靠度會(huì)有不良的影響。
此為最常見錫與鉛兩相合金的“金相平衡圖”
圖11、此為最常見錫與鉛兩相合金的“金相平衡圖”,其中的Sn63/Pb37正是夢寐以求的共晶組成,也正是熔點(diǎn)最低最理想的均質(zhì)焊料,其固化與液化過程并未通過漿態(tài),是不易開裂的最佳合金。
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