分為銅箔定義(也稱非阻焊定義,NSMD)和阻焊定義(SMD)。
銅箔定義,即焊盤大小由銅箔尺寸確定。
阻焊定義,即焊盤大小由阻焊開窗尺寸確定,一般推薦采用非阻焊定義設計方式。
阻焊間隙一般應≥0.08mm(3mil),最小阻焊橋寬一般應≥0.10mm(4mil),特殊情況下,如0.4mm間距的CSP和QFP,阻焊間隙可以小至0.06mm(2.5mil),阻焊橋寬可以小至0.08mm(3mil)。
當表面組裝元件焊盤間隙≥0.2mm時,推薦采用單焊盤式窗口設計;間隙<0.2mm時,推薦采用群焊盤式窗口設計。
阻焊厚度對于精細間距元件的焊膏印刷量的影響比較大,對于使用雙排QFN、0.44mmCSP、0201、01005等元器件的PCBA,阻焊厚度應控制在20μm內,這屬于特殊要求,應標注在圖紙上。
采用阻焊定義焊盤設計時,銅盤應比阻焊開窗單邊大0.04mm(1.5mil)以上。
如果封裝為尺寸小于0805、兩引腳的Chip類元件且兩焊盤分別采用不同的定義方式,則設計時應確保兩焊盤形狀與大小一樣,即阻焊定義焊盤的阻焊開窗應與非阻焊定義焊盤一樣。③不推薦將阻焊定義焊盤設計用于間距≤0.65mm的BGA、QFN下個別焊盤,這樣會減少此焊盤對焊錫的吸附空間,容易發(fā)生橋連,因此,應優(yōu)先采用非阻焊定義的焊盤設計。
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