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PCB電路板CTI數(shù)值、等級(jí)、模型及測(cè)試比較

作者:sdxyx    發(fā)布時(shí)間:2023-02-15 08:20:17    瀏覽量:

覆銅板的耐漏電起痕性通常用相比漏電起痕指數(shù)(Comparative tracking index,簡(jiǎn)稱CTI)表示。在覆銅箔層壓板(簡(jiǎn)稱覆銅板)的諸多性能中,耐漏電起痕性作為一項(xiàng)重要的安全可靠性指標(biāo),已越來越為印制電路板設(shè)計(jì)者和電路板生產(chǎn)廠家所重視。


CTI值按照IEC-112標(biāo)準(zhǔn)方法《基材、印制板和印制板裝配件的相比漏電起痕指數(shù)的測(cè)試方法》測(cè)試出來,它是指基材表面經(jīng)受住50滴0.1%氯化銨水溶液而沒有形成漏電痕跡的最高電壓值(V)。美國UL和IEC根據(jù)絕緣材料的CTI水平,分別將其劃分6個(gè)等級(jí)和4個(gè)等級(jí),見表1,CTI≥600為最高等級(jí)。CTI值低的覆銅板,在高壓、高溫、潮濕、污穢等惡劣環(huán)境下長時(shí)間使用,容易產(chǎn)生漏電起痕。一般地,普通紙基覆銅板(XPC、FR-1等)的CTI≤150,普通復(fù)合基覆銅板(CEM-1、CEM-3)和普通玻纖布基覆銅板(FR-4)的CTI為175~225,均滿足不了電子電器產(chǎn)品更高安全性的使用要求。在IEC-950標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)覆銅板的CTI和印制電路板的工作電壓、最小導(dǎo)線間距(最小漏電距離Minimum Creepage Distance)的關(guān)系也作了規(guī)定,CTI高的覆銅板不僅適合在高污染度、高壓場(chǎng)合下使用,也非常適合制作高密度印制電路板,高耐漏電起痕性覆銅板和普通覆銅板相比,用前者制作的印制電路板的線間距可允許更小。


漏電起痕  Tracking:固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程。

相比漏電起痕指數(shù)  Comparative Tracking Index ( CTI ):材料表面能經(jīng)受住50滴電解液(0.1%氯化銨水溶液)而沒有形成漏電痕跡的最高電壓值,單位為V。

耐漏電起痕指數(shù) Proof Tracking Index( PTI ):材料表面能經(jīng)受住50滴電解液而沒有形成漏電痕跡的耐電壓值,以V表示。


cti等級(jí)


漏電起痕模型

cti模型



覆銅板CTI測(cè)試比較

cti測(cè)試



提高板材CTI主要從樹脂入手,盡量減少樹脂分子結(jié)構(gòu)中易碳化、易受熱分解的基因。

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