TDR測試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試。影響TDR測試精度有很多的原因,主要有反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等,反射會導(dǎo)致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴(yán)重偏差,特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯,因?yàn)門IP和信號線接觸點(diǎn)會導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù),導(dǎo)致反射發(fā)生,并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。
典型的TDR系統(tǒng)是由一臺高速階躍脈沖信號發(fā)生器與一個高速的取樣頭組成的。階躍脈沖的上升時間決定TDR設(shè)備分辨阻抗不連續(xù)性的能力;阻抗變化位置的準(zhǔn)確程度(即測試時間)則由高速取樣頭來決定。
網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA 是測量被測件(DUT)頻率響應(yīng)的儀器,測量的時候給被測器件輸入一個正弦波激勵信號,然后通過計(jì)算輸入信號與傳輸信號或反射信號之間的矢量幅度比,得到測量結(jié)果;在測量的頻率范圍內(nèi)對輸入的信號進(jìn)行掃描就可以獲得被測器件的頻率響應(yīng)特性;在測量接收機(jī)中使用帶通濾波器可以把噪聲和不需要的信號從測量結(jié)果中去掉,提高測量精度。
業(yè)界采用了許多校準(zhǔn)方法來保證TDR測量的精度,主要有:
1:偏置校準(zhǔn)方法(適用于基于采樣示波器的TDR)
2:歸一化校準(zhǔn)方法(適用于基于采樣示波器的TDR)
3:電子校準(zhǔn)件SOLT校準(zhǔn)方法(適用于基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR)
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