現(xiàn)在測試PCB阻抗的儀器主要有兩種：基于采樣示波器的時域反射計TDR和基于網(wǎng)絡分析儀的ENA-TDR。

一、基于采樣示波器的時域反射計TDR

TDR測試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試。影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射、校準、讀數(shù)選擇等，反射會導致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因為TIP和信號線接觸點會導致很大的阻抗不連續(xù)，導致反射發(fā)生，并導致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。

典型的TDR系統(tǒng)是由一臺高速階躍脈沖信號發(fā)生器與一個高速的取樣頭組成的。階躍脈沖的上升時間決定TDR設備分辨阻抗不連續(xù)性的能力；阻抗變化位置的準確程度（即測試時間）則由高速取樣頭來決定。

二、基于網(wǎng)絡分析儀的ENA-TDR

網(wǎng)絡分析儀VNA 是測量被測件（DUT）頻率響應的儀器，測量的時候給被測器件輸入一個正弦波激勵信號，然后通過計算輸入信號與傳輸信號或反射信號之間的矢量幅度比，得到測量結(jié)果；在測量的頻率范圍內(nèi)對輸入的信號進行掃描就可以獲得被測器件的頻率響應特性；在測量接收機中使用帶通濾波器可以把噪聲和不需要的信號從測量結(jié)果中去掉，提高測量精度。

業(yè)界采用了許多校準方法來保證TDR測量的精度，主要有：
1：偏置校準方法（適用于基于采樣示波器的TDR）
2：歸一化校準方法（適用于基于采樣示波器的TDR）
3：電子校準件SOLT校準方法（適用于基于網(wǎng)絡分析儀的ENA-TDR）

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