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設(shè)計(jì)缺陷對(duì)檢驗(yàn)檢測(cè)的影響

作者:sdxyx    發(fā)布時(shí)間:2022-08-03 09:03:45    瀏覽量:

設(shè)計(jì)缺乏可檢測(cè)性造成檢測(cè)困難

  • 元器件間距過(guò)小。

  • 較高元器件附近未留足空間,飛針等設(shè)備無(wú)法操作。

  • 測(cè)試點(diǎn)隱藏或遮蔽(如測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部)而無(wú)法接觸電測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)尺寸、間距過(guò)小和焊盤(pán)可焊性涂層材料用OSP。


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