一般公司的新產(chǎn)品開發(fā)偶而會(huì)遇到裸機(jī)高度落下【沖擊測(cè)試（drop test）】后發(fā)生BGA錫球裂開的問題，如果RD有比較好的sense，就應(yīng)該把產(chǎn)品拿來做一下應(yīng)力分析，而不是把所有的BGA掉落問題都賴給制造工廠的SMT貼片加工制程。

以工作熊的經(jīng)驗(yàn)來看，BGA錫球裂開的問題其實(shí)很難僅靠工廠的制程管理與加強(qiáng)焊錫來得到全面改善，如果設(shè)計(jì)的時(shí)候RD可以多出點(diǎn)力氣，制造上會(huì)省下很多成本，以下面這個(gè)案子為例，可以省下Underfill的材料費(fèi)及工時(shí)費(fèi)用，還包含了間接管理與修復(fù)的費(fèi)用，更可以降低日后可能的市場(chǎng)商譽(yù)質(zhì)量損失。

其實(shí)BGA開裂的最大問題十有八九都來自于應(yīng)力，不管是SMT回焊高溫時(shí)板子彎曲變形所形成的應(yīng)力，還是產(chǎn)品因?yàn)闄C(jī)構(gòu)組裝所形成的應(yīng)力，或是因?yàn)榭蛻羰褂脮r(shí)撞擊，或不慎掉落地面所造成的外力，這些其實(shí)都是應(yīng)力的來源，如果設(shè)計(jì)之初就可以仿真各種狀況做應(yīng)力分析，并針對(duì)可能產(chǎn)生應(yīng)力的部份做一些設(shè)計(jì)調(diào)整以降低應(yīng)力的影響， 相信可以讓BGA產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量更加的穩(wěn)定，甚至還可以移除一些不必要的underfill制程，達(dá)到節(jié)省成本的利益。

不知是否因?yàn)楣ぷ餍軐?duì)新磣品有過多次的類似要求，還是大家終于體認(rèn)到設(shè)計(jì)影響制造的嚴(yán)重性，公司這次新產(chǎn)品的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)總算有個(gè)比較好的響應(yīng)，也花了心思做了BGA錫球開裂的要因分析，更發(fā)現(xiàn)應(yīng)力的來源，并且做了設(shè)計(jì)變更來改善這個(gè)BGA錫球開裂的問題，當(dāng)然有先用mockup的材料來做驗(yàn)證，結(jié)果也讓人滿意， 事后實(shí)際修模生產(chǎn)做最終驗(yàn)證也都沒有再發(fā)現(xiàn)BGA開裂的問題，真心希望這以后是RD驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)程序。

以下就是這款產(chǎn)品的大概設(shè)計(jì)外型與BGA所在位置，為了方便客戶使用時(shí)不至于發(fā)生反光，所以產(chǎn)品設(shè)計(jì)了一個(gè)類似收款機(jī)的傾斜屏幕，就是這個(gè)傾斜角讓BGA在產(chǎn)品做正反面落下測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了巨大的形變，以致造成BGA錫球裂開，因?yàn)楫a(chǎn)品側(cè)邊(side)及角落(corner)摔落時(shí)都沒有問題，以前的例子幾乎都是在角落摔出問題的。

既然知道可能的問題出在電路板變形量過大，于是在電路板上黏貼應(yīng)力計(jì)(Stress Gauge)然后先量測(cè)未改善前的應(yīng)力數(shù)據(jù)。 改善方法是在BGA的附近新增機(jī)溝肋柱(rib)來頂住電路板以降低電路板在落下時(shí)的變形量，參考上圖的[New add rib]。

因?yàn)檫@個(gè)產(chǎn)品的大部分設(shè)計(jì)都已經(jīng)完成，所以改善的方法就是盡量找到一個(gè)空間可以用來增加支撐柱，讓電路板在落下變形時(shí)有物體可以支撐住，以降低其變形量，改善對(duì)策后再用應(yīng)力計(jì)實(shí)際量測(cè)一次應(yīng)力。

下表列出改善前與改善后(增加rib)的應(yīng)力實(shí)際量測(cè)值。 就如同預(yù)期的，在正面（傾斜面）落下時(shí)的應(yīng)力改善達(dá)到106，因?yàn)楫a(chǎn)品正面外型有個(gè)彎曲傾斜角，比較容易因?yàn)橥饬Χ鴱澢欢趁妫ㄆ矫妫┞湎碌膽?yīng)力改善則比較小，只有42。 足見增加一根肋條(rib)就可以達(dá)到一定程度的電路板變形量改善。 這個(gè)應(yīng)力值量測(cè)的是電路板的Z方向，但是只有X軸的Z值，如果可以加側(cè)Y軸的Z值會(huì)更有參考價(jià)值。

山東芯演欣電子科技發(fā)展有限公司   聯(lián)系電話：18865375835

這項(xiàng)設(shè)計(jì)變更執(zhí)行后，經(jīng)過DQ重新驗(yàn)證落下測(cè)試的效果，證實(shí)BGA沒有再出現(xiàn)開裂的問題。